Sulautettujen järjestelmien testaus -seminaari

Paikka: Tampereen teknillinen yliopisto, Tietotalo TB104

Aika: 24.8.2011 8:30-16:00

Tekesin Ubicom-ohjelma, FIMA, TTY ja TestausOSY järjestävät yhdessä sulautettujen järjestelmien testaus-seminaarin.
Sulautetut järjestelmät edustavat suomalaista osaamista parhaimmillaan. Testauksella on tärkeä rooli niiden korkean laadun, luotettavuuden ja turvallisuuden saavuttamisessa. Seminaarissa luodaan katsaus sulautettujen ohjelmistojen testauksen uusiin vaatimuksiin, haasteisiin ja mahdollisuuksiin. Esillä on uusinta tietoa ja ratkaisuja niin teollisuudesta kuin tutkimusmaailmasta ja testausvälineiden toimittajilta. Tavoitteena on luoda testaukseen uutta yhteistyötä ja osaamisen jakamista, jolla kehittyvien järjestelmien ja kasvavien vaatimusten haasteet voitetaan tehokkaasti ja korkealla laadulla. Tervetuloa tilaisuuteen.
Tilaisuus on maksuton.

OHJELMA

8:30 Seminaarin avaus

Ikonen/Katara/Vistbacka: Tilaisuuden avaus
Kimmo Ahola, Tekesin Ubicom-ohjelma: Ohjelman kuulumiset
Antti Sirén, FIMA: FIMA:n kuulumiset

9:15 Osa I

Mika Katara, TTY:
Mallipohjainen testaus ja formaali verifiointi ja IEC 61508-3:n uuden version vaatimukset

9:45 Aamukahvi

10:00 Osa II

Teijo Kuosmanen, DA-Design Oy:
Testaus ja sulautettujen järjestelmien laadun varmistaminen tuotekehityksestä tuotantoon

Hans Kuosmanen, OptoFidelity Oy:
Käyttäjäkokemuksen ja tuotetason suorituskyvyn testaaminen sulautetuissa laitteissa

Paulus Numminen, CrossControl Oy :
CCSimTech: customer cases and new features

11:30 Lounas

12:30 Osa III

Simo Tauriainen, Ponsse Oyj:
Simulaattoriavusteinen ohjelmistotestaus työkoneympäristössä

Petri Hakomäki, Sandvik Mining and Construction Oy:
Testausautomaatio nyt ja miten tänne päädyttiin

Markku Pusenius, Creanex Oy:
Uusia ratkaisumalleja ohjausalgoritmien testaukseen ja konseptointiin

14:00 Iltapäiväkahvit

14:15 Osa IV

Tomi Norolampi, Flexibilis Oy
Kiihdytetty VHDL-suunnittelun regressiotestaus

Hannu Hirvi, Softability Oy:
Visual Studio 2010 - Driven test approach for embedded devices

Teppo Myllys, National Instruments Oy:
Automating Real-Time Testing for Embedded Software Development

16:00 Seminaari päättyy

 

 

Muista myös Projektinhallintapäivä TTY:llä 23.08.2011.